1. 分光室:帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓光刪直徑400mm;間歇式真空系統(tǒng),可保證真空泵運(yùn)行時(shí)間小于5%。
2. 光學(xué)系統(tǒng):凹面光刪由德國(guó)Zeiss制造,刻線密度2400l/mm,一級(jí)光譜線色散率為1.04 nm/mm。
3. 測(cè)控系統(tǒng):采用由日本濱松制造的高性能線陣CMOS檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),是全面測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器,可以滿足包括:Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體等的測(cè)試。
4. 激發(fā)光源:全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)+高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)。
5. 分析時(shí)間:依樣品種類而不同,一般少于40秒。
6. 可測(cè)量波長(zhǎng)范圍140–680nm,像素分辨率10pm。